| 53 | 走査型電子顕微鏡（SEM） 和文英訳 |
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| 【問題】次の和文を英訳してください。 試料に電子線を照射すると試料の表面から２次電子が発生するが、2次電子の発生効率は物質・試料形状によって変化する。走査型電子顕微鏡（SEM）は2次電子のこの現象を利用して試料表面の形状を観察する装置である。すなわち、細く絞った電子線を試料表面に照射しながら電子線を2次元走査することにより、試料各部からの2次電子を検出する装置であり、光学顕微鏡に比べて分解能や焦点深度は格段に優れている。 【解 説】 ・ 試料： a sample ・ 電子線： electron beam ・ 照射する： bombard, aim at ・ 2次電子： secondary electrons ・ SEM： Scanning Electron Microscope ・ 試料表面の形状： the surface dimensional characteristic of a sample ・ 観察する： （この場合は） measure ・ 細く絞った電子線： a finely-focused electron beam ・ 2次元走査する： (is) scanned in two dimensions ・ 試料各部： various parts of the sample ・ 光学顕微鏡： an optical microscope ・ 分解能： resolution ・ 焦点深度： focal depth ・ 格段に優れている： (is) far superior to ～ [直 訳] When an electron beam is irradiated at a sample, secondary electrons are generated from the surface of the sample(1). The rate at which they are generated depends on the material and shape of the sample(2). A scanning electron microscope (SEM) is a device that observes the surface dimensional characteristics of a sample using this phenomenon of secondary electrons(3). In other words, through two-dimensional scanning of the electron beam while irradiating a finely-focused electron beam the SEM detects the secondary electrons from the various parts of the sample(4), and is far superior to an optical microscope in resolution and focal depth(5). このようにただ日本語原文の言葉を相当する英語に変換することが翻訳であるとするならば、翻訳という仕事は非常にやさしい仕事であるといえます。では、例によってこの直訳文のどこが悪いのか考えてみましょう。 (1) にも(2)にも “are generated” という動詞句が使われていますので、これを1回ですまされないか、とまず考えます。 主語の選び方を変えれば、次のように二つの文章を一つですますことができます。 The surface of a sample bombarded by an electron beam emits secondary electrons at a rate depending on the sample shape and material. 語数も大分減りました（35語→23語、12語の減少です）。それでいて表現する内容には変化がありません。 直訳文でまず悪いところは、(3)の “A scanning electron microscope(SEM) is a device” です。これはいわば同語反復 (tautological) です。電子顕微鏡は一つの装置であることは誰でも知っている事実ですから、こう書いてもあまり意味がないわけです。 次に “using this phenomenon of secondary electrons” の中の “of” 以下は不要です。次のように書けばよいと思います。 “ A scanning electron microscope(SEM) utilizes this phenomenon to measure the surface dimensional characteristics of a sample. (4) の中の副詞句 “through two-dimensional scanning …. electron beam” は、むしろ一つの文章にした方がよいでしょう。 次の “main clause（主文）” とで二つの文章になりますが、この方がわかりやすいと思います。次のように。 “A finely-focused electron beam is aimed at the surface of the sample and scanned in two dimensions. The SEM detects the resulting secondary electrons emitted from various parts of the sample. (5) の直訳文ではほとんど直すところはありません。以上をまとめて【訳 文】として以下に示します。 【訳 文】 The surface of a sample bombarded by an electron beam emits secondary electrons at a rate depending on the sample shape and material. A scanning electron microscope(SEM) utilizes this phenomenon to measure the surface dimensional characteristics of a sample. A finely-focused electron beam is aimed at the surface of the sample and scanned in two dimensions. The SEM detects the resulting secondary electrons emitted from various parts of the sample. The SEM is far superior to an optical microscope, especially in resolution and focal depth. |
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